热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为

热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为智能电话：15219504346 （温先生）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应用非常广泛，去封装的芯片分析，未去封装的芯片分析，电容，FPC,甚至小尺寸的电路板分析（PCB、PCBA）,这也就让你可以在对样品的不同阶段都可以使用thermal技术进行分析，如下图示例，样品电路板漏电***到某QFN封装器件漏电，将该器件拆下后发现漏电改善，对该器件焊引线出来，未开封***为某引脚，开封后扎针上电再做分析，进一步确认为晶圆某引线位置漏电导致，如有需要可接着做SEM,FIB等分析。

 

未开封器件分析

 

开封器件分析

2. 它能侦测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏电，低阻抗短路，ES***，闩锁效应点，金属层底部短路等等，而电容的漏电和短路点***，FPC,PCB,PCBA的漏电，微短路等也能够******

 

lock-in锁相分析

 

开封芯片漏电分析

 

GAN-SIC器件

3，它是无损分析：作为日常的失效分析，往往样品量稀少，这就要求失效分析技术***好是无损的，而对于某些例如陶瓷电容和FPC的缺陷，虽然电测能测出存在缺陷，但是对具体缺陷位置，市场上的无损分析如XRAY或超声波，却很难进行***，只能通过对样品进行***性切片分析，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 技术，你需要的只是给样品上电，就可以对上述两种缺陷进行***

 

FPC缺陷分析

 

电容缺陷分析

4,锁相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测u***漏电流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点侦测法（0.1℃分辨率，m***漏电流热点）

 

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示出缺陷的位置，在半导体领域

 

在集成电路操作期间，内部结自加热导致接合处的热量集中。器件中的峰值温度处于接合处本身，并且热从接合部向外传导到封装中。因此，器件操作期间的***结温测量是热表征的组成部分。

 

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热分析工具（如 图像序列分析）可用于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统作为一台***为缺陷***的系统，专为电子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN技术，使用LWIR镜头，仍能将将温度分辨率提升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率***高达到5um,尤其其软件系统经过多年的优化，具有非常易用和实用，以下是OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统分析过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作为Optotherm公司中国代表（***代理），在深圳设立optotherm红外热分析应用实验室，负责该设备的演示和销售，如有相关应用，可提供免费评估测试服务。

深圳市立特为智能有限公司LEADERWE立为包括立为智能国际有限公司和深圳市立特为智能有限公司，是一家***提供电子、材料等领域分析及检测设备的综合服务供应商！

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一文读懂红外传感器之红外热成像仪
我们了解到，红外热成像仪是红外传感器的诸多应用中非常重要的一种应用，从***初仅限于作为***|用高科技产品，现在已经越来越普遍地走向工业和民用市场。

在电影《蒸发密令》里有这样一个镜头，施瓦辛格为了躲避持有热成像仪的对手的***，跳进了装满水的浴缸里，以便将自己的温度和周围保持一致，从而试图遮蔽自己的红外信号源，避免热成像仪的***。
要想知道热像仪为什么这样神奇，首先还得从它的工作原理说起。

红外热成像仪的工作原理

所有高于***零度（-273℃）的物体都会发出红外辐射。利用某种特殊的电子装置将物体表面的温度分布转换***眼可见的图像，并以不同颜色显示物体表面温度分布的技术称之为红外热成像技术，这种电子装置称为红外热成像仪。

红外热成像仪是利用红外探测器、光学成像物镜和光机扫描系统接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元上，在光学系统和红外探测器之间，有一个光机扫描机构对被测物体的红外热像进行扫描，并聚焦在单元或分光探测器上，由探测器将红外辐射能转换成电信号，经放大处理、转换或标准视频信号通过电视屏或监测器显示红外热像图。

这种热像图与物体表面的热分布场相对应，但实际被测目标物体各部分红外辐射的热像分布图由于信号非常弱，与可见光图像相比，缺少层次和立体感，因此，在实际过程中为更有效地判断被测目标的红外热分布场，常采用一些辅助措施来增加仪器的实用功能，如图像亮度、对比度的控制，实标校正，伪色彩描绘等高线和直方进行数***算和处理等。
需要说明的是，同一目标的热图像和可见光图像是不同的，它不是人眼所能看到的可见光图像，而是目标表面温度分布图像，或者说，红外热图像是人眼不能直接看到目标的表面温度分布，变***眼可以看到的代表目标表面温度分布的热图像。

热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为智能虽然发射率的科学定义是很重要的，但是通常在实际操作中是无法应用的。我们需要了解实际发射率的定义以及一些基本概念。在通常情况下，红外能表现为三种形式，即发射、穿透，热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为智能外热像仪的快照速度或“时间常数”一般为8-12ms。但这并不意味着传感器像素点以每8-12ms进行读取，而是探测器热成像的时间是8-12ms。一般的经验是：处理，热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为智能探测器为间接数字化***成像，其基本结构为表面是一层闪烁体材料（碘化绝或硫氧化），再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路，***底层为电荷读出电路。位于探测器表面，热发射显微镜系统参数_optotherm红外线显微镜-立特为智能线采集的点形成的阵列工艺存在缺陷，或光信号进行转化的过程中出现错误，会造成图像上有些像素的信息有误，导致图像中的像素值不准确，这些有缺陷的像素即为图像坏点由于来。