显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特

显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能电话：15219504346 （温先生）

关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应用非常广泛，去封装的芯片分析，未去封装的芯片分析，电容，FPC,甚至小尺寸的电路板分析（PCB、PCBA）,这也就让你可以在对样品的不同阶段都可以使用thermal技术进行分析，如下图示例，样品电路板漏电***到某QFN封装器件漏电，将该器件拆下后发现漏电改善，对该器件焊引线出来，未开封***为某引脚，开封后扎针上电再做分析，进一步确认为晶圆某引线位置漏电导致，如有需要可接着做SEM,FIB等分析。

 

未开封器件分析

 

开封器件分析

2. 它能侦测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏电，低阻抗短路，ES***，闩锁效应点，金属层底部短路等等，而电容的漏电和短路点***，FPC,PCB,PCBA的漏电，微短路等也能够******

 

lock-in锁相分析

 

开封芯片漏电分析

 

GAN-SIC器件

3，它是无损分析：作为日常的失效分析，往往样品量稀少，这就要求失效分析技术***好是无损的，而对于某些例如陶瓷电容和FPC的缺陷，虽然电测能测出存在缺陷，但是对具体缺陷位置，市场上的无损分析如XRAY或超声波，却很难进行***，只能通过对样品进行***性切片分析，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 技术，你需要的只是给样品上电，就可以对上述两种缺陷进行***

 

FPC缺陷分析

 

电容缺陷分析

4,锁相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测u***漏电流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点侦测法（0.1℃分辨率，m***漏电流热点）

 

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示出缺陷的位置，在半导体领域

 

在集成电路操作期间，内部结自加热导致接合处的热量集中。器件中的峰值温度处于接合处本身，并且热从接合部向外传导到封装中。因此，器件操作期间的***结温测量是热表征的组成部分。

 

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热分析工具（如 图像序列分析）可用于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统作为一台***为缺陷***的系统，专为电子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN技术，使用LWIR镜头，仍能将将温度分辨率提升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率***高达到5um,尤其其软件系统经过多年的优化，具有非常易用和实用，以下是OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统分析过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作为Optotherm公司中国代表（***代理），在深圳设立optotherm红外热分析应用实验室，负责该设备的演示和销售，如有相关应用，可提供免费评估测试服务。

深圳市立特为智能有限公司LEADERWE立为包括立为智能国际有限公司和深圳市立特为智能有限公司，是一家***提供电子、材料等领域分析及检测设备的综合服务供应商！

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深圳市立特为智能有限公司

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红外热成像仪的优点与缺点

红外热成像仪的优点

1、红外热成像技术是一种被动式的非接触的检测与识别，隐蔽性好。

由于红外热成像技术是一种对目标的被动式的非接触的检测与识别，因而隐蔽性好，不容易被发现，从而使红外热成像仪的操作者更安全、更有效。

2、红外热成像技术不受电磁干扰，能远距离***跟踪热目标，***制导。

由于红外热成像技术利用的是热红外线，因而不受电磁干扰。采用***热成像技术的红外搜索与跟踪系统，能远距离***跟踪热目标，并可同时跟踪多个目标，使***发挥***佳效能。

红外热成像技术可***制导，使制导***具有较高的智能性和发射后不用管的能力，并可寻找***重要的目标予以摧毁，从而大幅度提高了弹***的命中精度，使其作战威力成几十倍地提高。

3、红外热成像技术能真正做到24h全天候监控。

红外辐射是自然界中存在***为广泛的辐射，而大气、烟云等可吸收可见光和近红外线，但是对3～5μm和8～14μm的红外线却是透明的，这两个波段被称为红外线的“大气窗口”。

因此，利用这两个窗口，可以在完全无光的夜晚，或是在雨、雪等烟云密布的恶劣环境，能够清晰地观察到所需监控的目标。正是由于这个特点，红外热成像技术能真正做到24h全天候监控。

4、红外热成像技术的探测能力强，作用距离远。

利用红外热成像技术进行探测的能力强，可在敌方防卫***射程之外实施观察，其作用距离远。

目前手持式及装于轻***上的热成像仪可让使用者看清800m以上的*** ;且瞄准射击的作用距离为2～3km; 在舰艇上观察水面可达10km ; 在1.5km高的直升机上可发现地面单兵的活动 ;在20km高的偵察机上可发现地面的人群和行驶的车辆，并可分析海水温度的变化而探测到水下潜艇等。

5、红外热成像技术可采用多种显示方式，把人类的感官由五种增加到六种。

只有当物体的温度高达1000℃以上时，才能够发出可见光被人眼看见。而所有温度在***零度(-273℃)以上的物体，都会不停地发出热红外线。如一个正常的人所发出的热红外线能量，大约为100W。

这些都是人眼看不见的，但物体的热辐射能量的大小，直接和物体表面的温度相关。热辐射的这个特点使人们可以利用红外热成像技术对物体进行无接触温度测量和热状态分析，并可采用多种显示方式显示出来。

如对视频信号进行假彩色处理，便可由不同颜色显示不同温度的热图像;若反视频信号进行模数转换处理，即可用数字显示物体各点的温度值等，从而看清人眼原来看不见的东西。所以可以说，红外热成像技术把人类的感官由五种增加到六种。

6、红外热成像技术能直观地显示物体表面的温度场，不受强光影响，应用广泛。

红外测温仪只能显示物体表面某一小区域或某一点的温度值，而红外热成像仪则可以同时测量物体表面各点温度的高低，直观地显示物体表面的温度场，并以图像形式显示出来。

由于红外热成像仪是探测目标物体的红外热辐射能量的大小，从而不像微光像增强仪那样处于强光环境中时会出现光晕或关闭，因此不受强光影响。

红外热成像技术除主要应用***|事方面外，还可广泛应用于工业、农业、悘疗、消防、考古、交通、地质、***侦察等民用领域。并且，还可将这种技术大量地应用到安防监控领域中，以方便实现智能安防监控。

红外热成像仪的缺点：

1、图像对比度低，分辨细节能力较差

由于红外热成像仪靠温差成像，而一般目标温差都不大，因此红外热图像对比度低，使分辨细节能力变差。

2、不能透过透明的障碍物看清目标，如窗户玻璃。

由于红外热成像仪靠温差成像，而像窗户玻璃这种透明的障碍物，使红外热成像仪探测不到其后物体的温差，因而不能透过透明的障碍物看清目标。

3、成本高、价格贵

目前红外热成像仪的成本仍是限制它广泛使用的***大因素，但随着非致冷红外焦平面阵列的出现，提供了一种以低成本获得高分辨力、高可靠性器件的有效手段。随着科技的发展，关键技术的突破，并提高加工效率，今后的成本会大为降低的。

4、无法实现较远距离的监控，且监控画面只能判别是否有***人员进入，而无法看清楚人脸及外貌特征

红外热像仪在***|事和民用方面都有广泛的应用。随着热成像技术的成熟以及各种低成本适于民用的热像仪的问世，它在国民经济各部门发挥的作用也越来越大。

在工业生产中，许多设备常用于高温、高压和高速运转状态，应用红外热像仪对这些设备进行检测和监控，既能保***设备的安全运转，又能发现异常情况以便及时排除隐患。

同时，利用红外热像仪还可以进行工业产品质量控制和管理。此外，红外热像仪在悘疗、治安、消防、考古、交通、农业和地质等许多领域均有重要的应用。

如建筑物漏热查寻、森林探火、火源寻找、海上救护、矿石断裂判别、***发动机检查、***侦察以及各种材料及制品的无损检查等。

显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能仪都有自己的测温范围，只有被测物体的温度在这个范围内的时候，才能得到更清晰的图像效果，而且得到的温度数据也会更精准。工作环境热像仪作为一款电子产品，制约它的环境，显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能像仪，研发人员可大幅提高散热设计各个环节的工作效率。一、快速评估热负载红外热像仪可对产品温度分布直观成像，帮助研发人员精准评估热分布，***热负荷过大区域，让后续，显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能，并且能够提供准确的非接触温度测量功能。因此，在很多领域红外热像仪是一种经济的检测工具。在红外热像仪使用的时候，可能会出现红外图像不清晰，总会有噪点，这些是由于，显微热成像技术参数_optotherm红外热分析显微镜-立特为智能校正系数线性区内。2、热像仪散热对挡板校正有什么影响？红外热像仪经常在密闭的环境中使用，系统散热效果不佳，红外热像仪的功耗几乎全部转化为热量，在系统内堆积，随着。